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IEC 60749-34-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第34部分:电力 [复制链接]


sigh007

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  • TA的每日心情
    擦汗
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    楼主
    发表于 2012-3-26 16:53:08 |只看该作者 |倒序浏览
    本帖最后由 infoeach 于 2014-5-29 18:51 编辑

                       【英文标准名称】:     Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling            【原文标准名称】:     半导体器件.机械和气候试验方法.第34部分:电力循环            【标准号】:     IEC 60749-34-2004            【标准状态】:     作废            【国别】:     国际            【发布日期】:     2004-03    【实施或试行日期】: 【发布单位】: 国际电工委员会(IX-IEC)【起草单位】: IEC/TC 47【标准类型】: ()【标准水平】: ()【中文主题词】: 机械试验;电学测量;半导体器件;电气工程;电子设备及元件;耐力;集成电路;环境试验;试验条件;试验;定义;气候试验;电子工程;组件;半导体【英文主题词】: electronic equipment and components;definition;testing conditions;electrical measurement;climatic tests;failure;environmental testing;definitions;load alternation;mechanical testing;resistance;components;electrical engineering;testing;semiconductor devices;power electronics;simulation;electronic engineering;semiconductors;integrated circuits【摘要】: 【中国标准分类号】: L40【国际标准分类号】: 31_080_01【页数】: 14P.;A4【正文语种】: 英语         
             
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    China_jerry

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    沙发
    发表于 2014-5-13 23:15:40 |只看该作者
    楼主，附件在哪里呢？
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    xuqi02

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  • TA的每日心情
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    发表于 2014-5-28 18:29:37 |只看该作者
    资料很好，想学习学习。。。。
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    seazdsky

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    发表于 2014-7-30 18:07:09 |只看该作者
    thanks
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