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标题: IEEE 1149.1-1993 测试存取口及边界扫描结构 [打印本页]

作者: sigh007 时间: 2012-3-24 16:13:11 标题: IEEE 1149.1-1993 测试存取口及边界扫描结构

【英文标准名称】: Test access port and boundary-scan architecture 【原文标准名称】: 测试存取口及边界扫描结构【标准号】: IEEE 1149.1-1993 【标准状态】: 作废【国别】: 美国【发布日期】: 1993 【实施或试行日期】: 【发布单位】: 美国电气电子工程师学会(IEEE)【起草单位】: IEEE【标准类型】: ()【标准水平】: ()【中文主题词】: 印制电路;电子工程;电子设备及元件;开关电路;计算机硬件;试验;数据处理【英文主题词】: electronic engineering;printed circuits;computer hardware;electronic equipment and components;data processing;testing;switching circuits【摘要】: 【中国标准分类号】: L30【国际标准分类号】: 31_180;35_200【页数】: 172P;A4【正文语种】: 英语

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