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标题: IEC 60749-34-2005 半导体器件.机械和气候试验方法.第34部分:电力循环 [打印本页]

作者: sigh007 时间: 2012-3-21 20:43:01 标题: IEC 60749-34-2005 半导体器件.机械和气候试验方法.第34部分:电力循环

【英文标准名称】: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling 【原文标准名称】: 半导体器件.机械和气候试验方法.第34部分:电力循环【标准号】: IEC 60749-34-2005 【标准状态】: 作废【国别】: 国际【发布日期】: 2005-11 【实施或试行日期】: 【发布单位】: 国际电工委员会(IX-IEC)【起草单位】: IEC/TC 47【标准类型】: ()【标准水平】: ()【中文主题词】: 气候试验;元部件;定义;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;环境试验;故障;集成电路;机械试验;电力电子学;耐力;半导体器件;半导体;模拟;试验;试验条件【英文主题词】: Climatic tests;Components;Definitions;Electrical engineering;Electrical measurement;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Environmental testing;Failure;Integrated circuits;Load alternation;Mechanical testing

ower electronics;Resistance;Semiconductor devices;Semiconductors;Simulation;Testing;Testing conditions【摘要】: Used to determine the resistance of a semiconductor device to thermal and mechanical stresses due to cycling the power dissipation of the internal semiconductor die and internal connectors. This happens when low-voltage operating biases for forward condu【中国标准分类号】: L40【国际标准分类号】: 31_080_01【页数】: 30P.;A4【正文语种】: 英语

作者: 星空下的海滩 时间: 2017-7-28 10:46:10

帖子很不错，学习了！！！

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