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标题: IEC 60749-28-2017 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods [打印本页]

作者: cc523pate    时间: 2018-1-25 21:48:03     标题: IEC 60749-28-2017 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods

IEC 60749-28-2017 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing – Charged device model (CDM) – device level




作者: admin    时间: 2018-1-29 12:00:47

谢谢您的分享,金币已奖励!
作者: luthary    时间: 2018-5-29 15:25:26

哎,积分不够,攒够了积分再来
作者: ygs67    时间: 2018-5-30 12:27:57

多谢分享!                          
作者: fenglau    时间: 2018-5-31 10:18:28

~~~~~~~~~~~~~~分享快乐~~~~~~~~~~~~
作者: hgundas    时间: 2019-9-30 03:41:32


謝謝樓主的分享!!!!!!




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