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标题: IEEE C 62.37-1996 可控硅二极管缓冲保护装置试验规范 [打印本页]

作者: sigh007 时间: 2012-3-29 16:53:29 标题: IEEE C 62.37-1996 可控硅二极管缓冲保护装置试验规范

【英文标准名称】: Test specification for thyristor diode surge protective devices 【原文标准名称】: 可控硅二极管缓冲保护装置试验规范【标准号】: IEEE C 62.37-1996 【标准状态】: 现行【国别】: 美国【发布日期】: 1996 【实施或试行日期】: 【发布单位】: 美国电气电子工程师学会(IEEE)【起草单位】: IEEE【标准类型】: ()【标准水平】: ()【中文主题词】: 半导体;电压保护;定义;定义;规范;半导体闸流管;过电压保护装置;电气工程【英文主题词】: Definition;Definitions;Electrical engineering;Overvoltage protection;Semiconductors;Specification;Thyristors;Voltage protection【摘要】: 【中国标准分类号】: L43【国际标准分类号】: 31_080_10;31_080_20【页数】: 56P;A4【正文语种】: 英语

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