世界资料网论坛

标题: IEC 60749-34-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第34部分:电力 [打印本页]

作者: sigh007 时间: 2012-3-26 16:53:08 标题: IEC 60749-34-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第34部分:电力

本帖最后由 infoeach 于 2014-5-29 18:51 编辑

【英文标准名称】: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling 【原文标准名称】: 半导体器件.机械和气候试验方法.第34部分:电力循环【标准号】: IEC 60749-34-2004 【标准状态】: 作废【国别】: 国际【发布日期】: 2004-03 【实施或试行日期】: 【发布单位】: 国际电工委员会(IX-IEC)【起草单位】: IEC/TC 47【标准类型】: ()【标准水平】: ()【中文主题词】: 机械试验;电学测量;半导体器件;电气工程;电子设备及元件;耐力;集成电路;环境试验;试验条件;试验;定义;气候试验;电子工程;组件;半导体【英文主题词】: electronic equipment and components;definition;testing conditions;electrical measurement;climatic tests;failure;environmental testing;definitions;load alternation;mechanical testing;resistance;components;electrical engineering;testing;semiconductor devices;power electronics;simulation;electronic engineering;semiconductors;integrated circuits【摘要】: 【中国标准分类号】: L40【国际标准分类号】: 31_080_01【页数】: 14P.;A4【正文语种】: 英语

[attach]37726[/attach]

作者: China_jerry 时间: 2014-5-13 23:15:40

楼主，附件在哪里呢？

作者: xuqi02 时间: 2014-5-28 18:29:37

资料很好，想学习学习。。。。

作者: seazdsky 时间: 2014-7-30 18:07:09

thanks
thanks thanks thanksthanks

欢迎光临世界资料网论坛 (http://bbs.infoeach.com/)