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标题: ISO/TR 18392-2005 表面化学分析.X射线光电子光谱学.背景测定程序 [打印本页]

作者: sigh007 时间: 2012-3-24 12:58:58 标题: ISO/TR 18392-2005 表面化学分析.X射线光电子光谱学.背景测定程序

【英文标准名称】: Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Procedures for determining backgrounds 【原文标准名称】: 表面化学分析.X射线光电子光谱学.背景测定程序【标准号】: ISO/TR 18392-2005 【标准状态】: 现行【国别】: 国际【发布日期】: 2005-12 【实施或试行日期】: 【发布单位】: 国际标准化组织(ISO)【起草单位】: ISO/TC 201【标准类型】: ()【标准水平】: ()【中文主题词】: 化学分析和试验;化学成分;电子光谱;电子光谱学;精整;光电子;光谱学;表面性质;X射线;X射线分析;X射线光度法【英文主题词】: Chemical analysis and testing;Chemical composition;Electron spectra;Electron spectroscopy;Finishes

hotoelectronic;Spectroscopy;Surface properties;X-ray;X-ray analysis;X-ray spectrometry;X-rays【摘要】: This Technical Report gives guidance for determining backgrounds in X-ray photoelectron spectra. The methods of background determination described in this report are applicable for evaluation of spectra of photoelectrons and Auger electrons excited by X-rays from solid surfaces.【中国标准分类号】: G04【国际标准分类号】: 71_040_50【页数】: 11P;A4【正文语种】: 英语

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