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标题: IEC 60749-33-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第33部分:加速抗湿.无偏压热器 [打印本页]

作者: sigh007 时间: 2012-3-23 16:58:47 标题: IEC 60749-33-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第33部分:加速抗湿.无偏压热器

【英文标准名称】: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave 【原文标准名称】: 半导体器件.机械和气候试验方法.第33部分:加速抗湿.无偏压热器【标准号】: IEC 60749-33-2004 【标准状态】: 作废【国别】: 国际【发布日期】: 2004-03 【实施或试行日期】: 【发布单位】: 国际电工委员会(IEC)【起草单位】: IEC/TC 47【标准类型】: ()【标准水平】: ()【中文主题词】: 电子设备及元件;半导体器件;电子工程;电气工程;抗湿;粘结强度;集成电路;机械试验;环境试验;试验;气候试验;组件;半导体【英文主题词】: 【摘要】: 【中国标准分类号】: L40【国际标准分类号】: 31_080_01【页数】: 12P;A4【正文语种】: 英语

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