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标题: MIL-STD-750-5-2012 高可靠性的空间应用半导体器件试验方法 [打印本页]

作者: liuxilin1215 时间: 2013-12-25 07:35:22 标题: MIL-STD-750-5-2012 高可靠性的空间应用半导体器件试验方法

MIL-STD-750-5-2012 HIGH RELIABILITY SPACE APPLICATION TEST METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICES PART 5: TEST METHODS 5000 THROUGH 5999

MIL–STD–750–5
3 January 2012
SUPERSEDING
MIL–STD–750E (IN PART)
20 November 2006
(see 6.4)

[attach]30242[/attach]

作者: admin 时间: 2013-12-25 18:53:43

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