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标题: MIL-STD-750-1-2012 半导体器件环境试验方法 [打印本页]

作者: liuxilin1215 时间: 2013-12-24 07:44:11 标题: MIL-STD-750-1-2012 半导体器件环境试验方法

MIL-STD-750-1-2012 ENVIRONMENTAL TEST METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICES PART 1: TEST METHODS 1000 THROUGH 1999

MIL–STD–750–1
3 January 2012
SUPERSEDING
MIL–STD–750E (IN PART)
20 November 2006
(see 6.4)

[attach]30184[/attach]

作者: admin 时间: 2013-12-24 09:18:48

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