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标题: IEEE 759-1984 半导体X射线能谱分析器的试验程序 [打印本页]

作者: sigh007 时间: 2012-3-21 21:05:16 标题: IEEE 759-1984 半导体X射线能谱分析器的试验程序

【英文标准名称】: Test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers 【原文标准名称】: 半导体X射线能谱分析器的试验程序【标准号】: IEEE 759-1984 【标准状态】: 作废【国别】: 美国【发布日期】: 1984 【实施或试行日期】: 【发布单位】: 美国电气电子工程师学会(IEEE)【起草单位】: IEEE【标准类型】: ()【标准水平】: ()【中文主题词】: 辐射测量;半导体;辐射计;分光计;测量技术【英文主题词】: Measuring techniques;Radiation measurement;Radiation meters;Semiconductors;Spectrometers;X-ray spectrometer【摘要】: 【中国标准分类号】: L40【国际标准分类号】: 17_240【页数】: 39P;A4【正文语种】: 英语

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