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标题: YS/T 839-2012 [打印本页]

作者: sigh007 时间: 2013-9-6 14:39:35 标题: YS/T 839-2012

YS/T 839-2012
中文名：硅衬底上绝缘体薄膜厚度及折射率的椭圆偏振测试方法

下载地址:[attach]19612[/attach]

作者: shubaqingguo 时间: 2013-9-6 14:40:37

非常感谢版主能够提供。。。。。。。

作者: 2013 时间: 2013-9-6 22:23:09

谢谢分享！！！！！！！！！！

作者: jjdf12 时间: 2015-7-20 13:09:23

硅衬底上绝缘体薄膜厚度及折射率的椭圆偏振测试方法

作者: weyz2008 时间: 2016-5-2 08:53:00

YS/T 839-2012 硅衬底上绝缘体薄膜厚度及折射率的椭圆偏振测试方法

作者: max87654321 时间: 2016-6-12 18:27:12

很好的主题，希望参考一下

作者: coolztf 时间: 2017-2-23 01:18:53

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