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标题: IEC 62047-8-2011 半导体装置微电机装置第8部分下载 [打印本页]

作者: sigh007 时间: 2013-1-26 19:37:03 标题: IEC 62047-8-2011 半导体装置微电机装置第8部分下载

本帖最后由 infoeach 于 2013-2-18 15:30 编辑

中文名称: 半导体装置微电机装置第8部分:薄膜的拉力特性测量的带状抗弯试验

英文名称:Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Part 8:Strip bending test method for tensile property measurement of thin films Dispositifs. semiconducteurs. Dispositifs microélectromécaniques. Partie 8:Méthode d’essai de la flexion de bandes en vue de la mesure des propriétés de traction des couches minces Edition 1.0

中标分类：	ICS分类：31.080.99
标准分类编号：IEC	页数：40

发布日期：2011-03-14	实施日期：2011-03-01	作废日期：
被替代标准：		代替标准：
引用标准：		采用标准：
起草单位：		归口单位：

标引依据：

补充修订：

备注：

范围：
下载：[attach]98[/attach]

作者: 2013 时间: 2013-3-17 21:28:48

谢谢管理员分享！！！！！！！！

作者: tthung 时间: 2013-4-28 12:08:44

谢谢分享！！！！！！！！

作者: liupz808 时间: 2013-7-13 17:21:17

谢谢提供最新标准，广大网友下载学习！

作者: wowo520 时间: 2013-7-17 13:41:33

好資料!!!感謝分享!!!!!!

作者: normanlu 时间: 2013-7-28 20:45:59

顶一个！！！！！！！！！！！！

作者: lahtj 时间: 2013-8-7 13:25:10

谢谢分享！！！！！！！

作者: mechen 时间: 2013-8-14 17:10:52

好資料!!!感謝分享!!!!!!好資料!!!感謝分享!!!!!!

作者: missu1987 时间: 2017-2-12 06:05:17

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