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标题: IEC 62047-10 2011 [打印本页]

作者: h202226 时间: 2016-12-17 00:05:36 标题: IEC 62047-10 2011

IEC 62047-10
Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices –
Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials
Dispositifs à semiconducteur – Dispositifs microélectromécaniques –
Partie 10: Essai de compression utilisant la technique des micro-piliers pour
les matériaux des MEMS

[attach]117787[/attach]

作者: ygs67 时间: 2016-12-17 09:23:47

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作者: admin 时间: 2016-12-19 09:41:57

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