论坛首页 › IEEE 美国电气和电子标准 › IEEE 300-1988 半导体带电粒子探测器试验规程

sigh007 发表于 2012-3-22 19:05:23

IEEE 300-1988 半导体带电粒子探测器试验规程

                   【英文标准名称】:     Test procedures for semiconductor charged-particle detectors            【原文标准名称】:     半导体带电粒子探测器试验规程            【标准号】:     IEEE 300-1988            【标准状态】:     现行            【国别】:     美国            【发布日期】:     1988    【实施或试行日期】: 【发布单位】: 美国电气电子工程师学会(IEEE)【起草单位】: IEEE【标准类型】: ()【标准水平】: ()【中文主题词】: 试验;测量技术;辐射测量;半导体器件;半导体;试验规程;检波器;辐射计【英文主题词】: Detectors (circuits);Measuring techniques;Radiation measurement;Radiation meters;Semiconductor devices;Semiconductors;Test procedures;Testing【摘要】: 【中国标准分类号】: F84【国际标准分类号】: 17_240【页数】: 27P;A4【正文语种】: 英语         
         

查看完整版本: IEEE 300-1988 半导体带电粒子探测器试验规程