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sigh007 发表于 2013-3-14 10:43:42

JIS H0609-1999 选择蚀刻法测定硅的结晶缺陷的试验方法 下载

中文名称: 选择蚀刻法测定硅的结晶缺陷的试验方法               
                                  英文名称:Test methods of crystalline defects in silicon by preferential etch techniques               
                          
            
                          
                                  中标分类：H25                  ICS分类：31.200;77.120.99               
                                  标准分类编号：JP                  页数：24               
                          
            
                          
                                  发布日期：                  实施日期：                  作废日期：               
                                  被替代标准：                    代替标准：                
                                  引用标准：                   采用标准：                
                                  起草单位：                  归口单位：               
                          
            
                          
                                  标引依据：               
                                  补充修订：               
                                  备注：               
                                  范围：

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rickymarsboy 发表于 2015-6-6 00:20:15

hi
請問在哪裡可以下載?

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