sigh007 发表于 2013-1-26 19:37:03

IEC 62047-8-2011 半导体装置 微电机装置 第8部分 下载

本帖最后由 infoeach 于 2013-2-18 15:30 编辑


中文名称: 半导体装置 微电机装置 第8部分:薄膜的拉力特性测量的带状抗弯试验
英文名称:Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Part 8:Strip bending test method for tensile property measurement of thin films Dispositifs. semiconducteurs. Dispositifs microélectromécaniques. Partie 8:Méthode d’essai de la flexion de bandes en vue de la mesure des propriétés de traction des couches minces Edition 1.0
            
            
                          
中标分类：ICS分类：31.080.99
标准分类编号：IEC页数：40
            
            
                          
发布日期：2011-03-14实施日期：2011-03-01作废日期：
被替代标准： 代替标准：
引用标准：采用标准：
起草单位：归口单位：
            
            
                          
标引依据：
补充修订：
备注：
范围：
下载：

2013 发表于 2013-3-17 21:28:48

谢谢管理员分享！！！！！！！！

tthung 发表于 2013-4-28 12:08:44

谢谢分享！！！！！！！！

liupz808 发表于 2013-7-13 17:21:17

谢谢提供最新标准，广大网友下载学习！

wowo520 发表于 2013-7-17 13:41:33

好資料!!!感謝分享!!!!!!

normanlu 发表于 2013-7-28 20:45:59

顶一个！！！！！！！！！！！！

lahtj 发表于 2013-8-7 13:25:10

谢谢分享！！！！！！！

mechen 发表于 2013-8-14 17:10:52

好資料!!!感謝分享!!!!!!好資料!!!感謝分享!!!!!!

missu1987 发表于 2017-2-12 06:05:17

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