h202226 发表于 2016-12-17 00:05:36

IEC 62047-10 2011

IEC 62047-10
Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices –
Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials
Dispositifs à semiconducteur – Dispositifs microélectromécaniques –
Partie 10: Essai de compression utilisant la technique des micro-piliers pour
les matériaux des MEMS


ygs67 发表于 2016-12-17 09:23:47

已下载，多谢分享！                  

admin 发表于 2016-12-19 09:41:57

谢谢您的分享,金币已奖励!
页: [1]
查看完整版本: IEC 62047-10 2011